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壓敏電阻交流作用下的老化機理

交流作用下。在正半周時，假設右側為正極性，電壓主要加在右側的耗盡層上，使右側的Zni向晶界遷移，而左側所加電壓很低，Zn

i向晶粒內遷移不大；在負半周，電壓主要加在左側，使左側Zni向晶界遷移，右側這時所加電壓很低，Zni向晶粒體內遷移不大。總的結果是左右兩側的Zni都向晶界遷移。

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漏電流IL

漏電流(mA)也稱等待電流，是指壓敏電阻器在規定的溫度和直流過壓敏電阻器電流。IEC對漏電流 IL較為普遍的定義是：環境溫度25℃時，在壓敏電阻上施加其所屬規格的連續直流工作電壓UDC時，流過壓敏電阻的直流電流。

一般而言，在材料配方和燒結工藝固定的情況下，漏電流適中的壓敏電阻具有較好的安全性和較長的壽命。

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氧化鋅壓敏電阻器已廣泛應用于過電壓保護、浪涌吸收、過電流泄放等方面,是防護電氣電子設備因受雷電閃擊及其他瞬態電磁干擾造成傳導過電壓危害的有效器件,它的性能直接影響安全保護效果。因氧化鋅壓敏電阻在系統或設備運行中必然存在老化劣化現象,

故必須對其進行定期檢測,以防止老化劣化產品仍工作在系統或設備中。然而,目前檢測方法所判定的壓敏電壓U1mA和漏電流I

leakage兩個參數都存在拐點效應,即只有當MOV劣化到一定程度后,U1mA和Ileakage才會出現顯著變化;而在這個拐點之前U1mA和

Ileakage都符合SJ/T10349-93測試標準的要求[8],這就給檢測結果帶來不確定性。某個產品自身已經老化劣化到一定程度需要及時更換,但U1mA和Ileakage檢測值仍然合格。

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