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壓敏電阻連續(xù)工作電壓壽命，即壓敏電阻在規(guī)定環(huán)境和系統(tǒng)電壓條件下應(yīng)能可靠地工作規(guī)定的時間（h）。由于壓敏電阻總是承受著穩(wěn)態(tài)工作電壓應(yīng)力的作用，壓敏電阻的壽命是與漏電流密切相關(guān)的。在不發(fā)生機械或其他電氣性能失效的情況下，壓敏電阻的壽命主要由漏電流IR（密度JR）及其溫度、電壓和時間的上升情況所決定。隨著漏電流IR（密度JR）升高，發(fā)熱量增大，若這個能量不能散失，元件的溫度會很快上升，這種元件在維持一段初始穩(wěn)定狀態(tài)后，終將達到熱失控（擊穿）的溫度而結(jié)束其使用壽命。

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電流溫度系數(shù)與絕緣電阻：

電流溫度系數(shù)

指在壓敏電阻器的兩端電壓保持恒定時，溫度改變1℃時，流過壓敏電阻器電流的相對變化。

絕緣電阻指壓敏電阻器的引出線(引腳)與電阻體絕緣表面之間的電阻值。

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氧化鋅壓敏電阻的缺陷：

ZnO壓敏電阻器中的缺陷有正一價和正二價的Zni和Vo，負(fù)一價和負(fù)二價的

VZn ，正一價的DZn。VZn主要在晶界處，VZn為受主態(tài)，使晶粒表面形成一電子耗盡層而產(chǎn)生勢壘，約0.7eV。Zni容易遷移為亞穩(wěn)態(tài)，是老化產(chǎn)生的根源所在。DZn可降低晶粒體的電阻，提高通流容量。Vo在氧不足的ZnO-x中量很少，主要存在于晶界中。高溫時原子運動加劇，在晶界中形成大量的VZn和Vo，但Vo在冷卻過程中容易從空氣中吸收氧而消失。

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